Содержание
- 2. Методи дослідження наносистем: 2.Дифракційні методи: 3. Спектроскопічні методи: 4. Мас-спектрометрія 1.Мікроскопічні методи:
- 3. Методи дослідження поверхні
- 4. Завдання рентгеноструктурного аналізу нанокристалів: 1.Атомна структура наночастинок (наноблоків). 2.Форма наночастинок (наноблоков). 3.Размір часточок, параметри розподілу по
- 5. Нанокристал: Класифікація наноструктур за Зигелем: 0 – нульмірні, 1 – одномірні, 2 - двомірні, 3 –
- 6. Методи рентгенографічного аналізу наносистем ФОРМУЛА ВУЛЬФА – БРЕГГА: dhkl – міжплощинна відстань для системи площин з
- 7. Малокутове рентгенівське розсіювання Монодисперсні системи: Наночасточки металів в матриці, розчини білків в полімерах Визначити: Форму та
- 8. Вплив дефектів на ширину ліній Рентгенограми гексагонального Co : a – часточки з ідеальною кристалічною структурою
- 9. Малокутове рентгенівське розсіювання Пружне розсіювання рентгенівського випромінювання Діапазон кутів 2Θ = 0.1 -3.5° Довжини хвиль :
- 10. Фактори впливу на ширину ліній
- 11. Дифракція електронів для дослідження поверхні: Дифракція швидких електронів reflection high-energy electron diffraction (RHEED) Дифракція повільних електронів
- 12. Дифракція повільних електронів Флуоресцентний екран Електронна пушка Зразок Лінзи Вінельт Для оцінки структурної досконалості поверхні; оцінити
- 13. Електронна пушка Зразок Флуоресцентний екран Дзеркальний рефлекс Межа тіні Тримач зразка з азимутальним обертанням Дифракція швидких
- 14. Нейтронна дифракція по часу прольоту 1 - джерело нейтронів, 2 - сповільнювач, 3 - вакуумований нейтроновод
- 15. Рентгенівська та фотоелектронна спектроскопія Взаємодія рентгенівського променя з речовиною Рентгенівська флуоресценція Оже-процес фотоіонізація
- 16. Рентгенівська спектроскопія поглинання X-ray Absorption Fine Structure (XAFS) X-Ray absorption near-edge structure Околокрайова тонка структура Extended
- 17. Локальна структура плівок GaAs локальна атомна структура нанокристалічною GaAs відрізняється від структури об'ємної фази тільки в
- 18. XAFS – спектри фулеренів
- 19. Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія Області застосування: Якісний і кількісний аналіз поверхні (всі елементи, починаючи з He); аналіз
- 20. Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія: оглядовий спектр 1. ПЕРВИННИЙ СПЕКТР: електронні рівні остову, валентних рівнів та Оже-серії 2.
- 21. Вторинний спектр: природа сателітів САТЕЛІТИ "СТРУСУ" (SHAKE-UP) hυ Визначається заповненість/незаповненість валентної оболонки! ВТОРИННИЙ СПЕКТР: рентгенівські сателіти
- 22. Стан Оксигену на срібних наноплівках Спектри оксигену O 1s окиснених наночасточок Ag в залежності від співвідношення
- 23. Електронна Оже-спектроскопія К L1 L2 hυ фотоелектрон дірка Ekin Оже-електрон Типовий спектр вторинних, розсіяних та Оже-електронів
- 24. Оже-переходи. Точки, що мають інтенсивніший чорний колір, є найімовірніші Оже-переходи
- 25. Оже-спектроскопія наноалмазів И.И. Кулакова, В.В. Корольков, Р.Ю. Яковлев, Г.В. Лисичкин// Российские нанотехнологии, т.5, №7, 2010 Наноалмаз
- 26. ДЕЯКІ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЕЛЕКТРОННОЇ СПЕКТРОСКОПІЇ
- 27. ДІАГНОСТИКА СКЛАДУ ПРИПОВЕРХНЕВИХ ШАРІВ НАНОСИСТЕМ
- 28. ІЧ та Раманівська спектроскопія ІЧ – спектр нанопорошка карбонітриду силіцію А) після активації при 873 К;
- 29. ФІЗИКО-ХІМІЧНІ ХАРАКТЕРИСТИКИ НАНОСИСТЕМ
- 30. Іммобілізація продуктів відновлення сульфід-йоном Au3+ ПЕМ (1,2) та АСМ зображення НЧ Au РФЕС відновлених зразків золота,
- 31. Комплексне застосування фізико-хімічних методів дослідження на прикладі полішарових плівок Полірування підкладки Напилення металів Металічні плівки Моношарова
- 32. Комплексне застосування фізико-хімічних методів дослідження на прикладі полішарових плівок
- 33. Морфологія плівки Fe+Cu за даними тунельної скануючої мікроскопії РФЕС підкладки з плівкою заліза Комплексне застосування фізико-хімічних
- 34. Встановлення механізму витіснення наночасточок золота СТМ наночасточок золота на підкладці до і після термічного відпалу Механізм
- 35. Короткі нотатки: 1. Дифракційні методи аналізу включають дифракцію рентгенівського випромінювання, нейтронографію та дифракцію повільних та швидких
- 37. Скачать презентацию