Содержание
- 3. Сканирующий туннельный микроскоп Атомно- силовой микроскоп
- 8. Кантилевер MSNL фирмы Bruker 6 разных консолей 2 нм радиус острия Кантилевер CSG-01 фирмы Tipsnano.ru 1
- 14. Атомно-силовой микроскоп : измерение рельефа и тока
- 15. Карта электропроводности
- 16. Карта электрических потенциалов при пропускании тока вдоль образца
- 17. Карта упругости
- 18. Карта вязкости
- 19. Карта адгезии (к определённому материалу)
- 20. Температурная карта (теплопроводности)
- 21. Карта намагниченности поверхности образца
- 22. Карта коэрцитивной силы (поля насыщения, чувствительности) магнитного или пьезоэлектрического материалов
- 23. Карта примеси в полупроводнике
- 25. Скачать презентацию