Атомно-силовой микроскоп в составе школьного инженерного класса: практическое применение АСМ Compact компании PHYWE

Сентябрь 15, 2022

Главная
Физика
Атомно-силовой микроскоп в составе школьного инженерного класса: практическое применение АСМ Compact компании PHYWE

Содержание

2. План Устройство атомного силового микроскопа. Демонстрация сканирования. Проведение измерений на практике. Школьный проект «Аэропалинологический мониторинг аллергенных
3. Устройство атомного силового микроскопа - кантилевер
4. Силы Ван дер Ваальса, режимы работы Дипольное взаимодействие Адгезионные силы (например, капиллярные силы) Устранение латеральных сил
5. Режимы работы – статического усилия
6. Режимы работы – динамического усилия
7. Возможные самостоятельные эксперименты 1. Basic methods in imaging of micro and nano structures with atomic force
8. Обратить внимание Осторожно – кантилевер (от 700 рублей)! Правильный кантилевер для выбранного режима Правильно подготовить препарат
10. Скачать презентацию

Слайд 2

План
Устройство атомного силового микроскопа.
Демонстрация сканирования.
Проведение измерений на практике. Школьный проект «Аэропалинологический

мониторинг аллергенных растений».
Участие школьников в проекте "Атлас бактерий". Применение программы Фемтоскан для обработки АСМ изображений.
Другие возможности микроскопа (спектроскопия и литография) в проектной деятельности школьников: «Как Левша блоху подковал».
Практическое занятие на микроскопе с участниками семинара.

Слайд 3

Устройство атомного силового микроскопа - кантилевер

Слайд 4

Силы Ван дер Ваальса, режимы работы
Дипольное взаимодействие
Адгезионные силы (например, капиллярные силы)
Устранение латеральных

сил

Слайд 5

Режимы работы – статического усилия

Слайд 6

Режимы работы – динамического усилия

Слайд 7

Возможные самостоятельные эксперименты
1. Basic methods in imaging of micro and nano

structures with atomic force microscopy:
http://repository.phywe.de/files/versuchsanleitungen/p2538000/e/p2538000e.pdf

2. Школьный проект «Аэропалинологический мониторинг аллергенных растений»
3. Изучение структуры волос

Слайд 8

Обратить внимание
Осторожно – кантилевер (от 700 рублей)!
Правильный кантилевер для выбранного режима
Правильно

подготовить препарат для микроскопии
Максимальная высота сканирования – 14 мкм (дели на два)