Электрофизические свойства барьеров Шоттки, на высокоомном арсениде галлия

Слайд 2

Рисунок 1 — Общий вид топологии фотоакустического преобразователя Слайд №2

Рисунок 1 — Общий вид топологии фотоакустического преобразователя

Слайд №2

Слайд 3

Слайд №3 Рисунок 2 – Схема установки для измерения вольтамперных характеристик барьеров Шоттки

Слайд №3

Рисунок 2 – Схема установки для измерения вольтамперных характеристик барьеров

Шоттки
Слайд 4

Слайд №4 Рисунок 3 – Прямая ветвь ВАХ исследуемой структуры

Слайд №4

Рисунок 3 – Прямая ветвь ВАХ исследуемой структуры

Слайд 5

Рисунок 4 – Обратная ветвь ВАХ исследуемой структуры Слайд №5

Рисунок 4 – Обратная ветвь ВАХ исследуемой структуры

Слайд №5

Слайд 6

Рисунок 5 – Зависимость тока структуры от времени измерения Слайд №6

Рисунок 5 – Зависимость тока структуры от времени измерения

Слайд №6

Слайд 7

A E1,E2 – источники постоянного напряжения; M1 – миллиамперметр (мультиметр DT-838);

A

E1,E2 – источники постоянного напряжения; M1 – миллиамперметр (мультиметр DT-838); Q1, R1, R2, D1, D2 – элементы токостабилизирующей нагрузки; М2 – микроамперметр

(мультиметр Mastech MS8222H); LED – инфракрасный светодиод Kingbright L-53SF6; STR – фотоприемник; V1 – вольтметр
Рисунок 6 — Электрическая схема измерительного стенда для измерения семейства ВАХ фотоприемника при оптическом облучении

Слайд №7

Слайд 8

а) б) 1 – I = 1,00 (IF = 16 мА);

а) б)

1 – I = 1,00 (IF = 16 мА); 2 – I = 0,21 (IF = 3,3 мА); 3 – I = 0,04 (IF = 0,7 мА)
Рисунок 7 — Семейство ВАХ фотоприемника при

различных интенсивностях света (а) и ВАХ в отсутствие освещения (б)

Слайд № 8