Содержание
- 2. Немного истории… Герд Биннинг Генрих Рёрер Сканирующий Атомно-силовой микроскоп (ССМ, по англ. AFM — atomic-force microscope)
- 3. Возможности ССМ Получение изображений поверхности образцов Изучение электронных и магнитных состояний поверхности Изучение атомно-силовых взаимодействий Атомное
- 4. Физические основы метода Ван-дер-ваальсова сила, действующая на атомы зонда со стороны атомов образца проводит к изгибу
- 5. Сила Ван-дер-ваальса Потенциал Леннарда- Джонса Сила взаимодействия Зонд ССМ испытывает притяжение со стороны образца на больших
- 6. Датчики ССМ Важнейшей составляющей ССM являются сканирующие зонды – кантилеверы("cantilever" - консоль, балка). На конце кантилевера
- 7. Конструкция атомно-силового микроскопа Основными конструктивными составляющими атомно-силового микроскопа являются: •Жёсткий корпус, удерживающий систему •Держатель образца, на
- 8. Система регистрации изгиба Соответствие между типом деформации консоли зондового датчика и изменением положения пятна засветки на
- 9. Принцип работы ∆I – входной параметр При сканировании образца в режиме ΔZ = const зонд перемещается
- 11. Два приема ССМ Формирование ССМ изображения при постоянной силе взаимодействия зонда с образцом Формирование ССМ изображения
- 12. Режимы работы РЕЖИМЫ РАБОТЫ контактный полуконтактный бесконтактный ССМ изображения полученные в полуконтактном режиме
- 13. ССМ
- 14. Список литературы Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – Н. Новгород. – 2004.
- 16. Скачать презентацию