Резонансные методы измерения параметров линейных компонентов

цепей с сосредоточенными постоянными

Институт инженерной физики и радиоэлектроники
Направление 210200.62 Радиотехника

К.т.н., доцент Алешечкин Андрей Михайлович

Метрология и радиоизмерения

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

Федеральное государственное образовательное учреждение
высшего профессионального образования

Сибирский федеральный университет

Кафедра «Радиотехника»

метод

ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ КОМПОНЕНТОВ ЦЕПЕЙ С СОСРЕДОТОЧЕННЫМИ ПАРАМЕТРАМИ

виды приборов для измерения параметров компонентов, и цепей с сосредоточенными постоянными:

Е2 - измерители полных сопротивлений и (или) полных проводимостей;
Е3 - измерители индуктивности;
Е4 - измерители добротности;
Е6 - измерители сопротивлений;
Е7 - измерители параметров универсальные;
Е8 - измерители емкостей.

Приборы для измерения параметров электронных ламп и полупроводниковых приборов делят на виды:
Л2 - измерители параметров (характеристик) полупроводниковых приборов (к этому виду относятся также измерители и испытатели интегральных схем);
ЛЗ - измерители параметров (характеристик)
электронных ламп;
Л4 - измерители шумовых параметров полупроводниковых приборов.

ПАРАМЕТРАМИ

Контурные методы

резонансная частота контура

измеряемая емкость

Измерение емкости контурным методом

ПАРАМЕТРАМИ

Контурные методы

Измеряемая индуктивность, мкГн

ПАРАМЕТРАМИ

Упрощенные схемы куметров

ПАРАМЕТРАМИ

Измерение добротности контурным методом

напряжение на конденсаторе

значение добротности при первой резонансной частоте

первая резонансная частота

значение добротности при новой резонансной частоте

новая резонансная частота

ПАРАМЕТРАМИ

Измерение добротности контурным методом

добротность

добротность при измерении косвенным методом переменной частоты

добротность, определенная по ширине полосы на уровне А