Оптика и квантовая физика. Лекция 2

Содержание

Слайд 2

Интерференция света Интерференция в тонких пленках Интерферометры Временная когерентность Условие пространственной когерентности Часть 2 Лекция 2

Интерференция света

Интерференция в тонких пленках
Интерферометры
Временная когерентность
Условие пространственной когерентности

Часть 2

Лекция 2

Слайд 3

Методы деления амплитуды Тонкие пленки Кольца Ньютона

Методы деления амплитуды

Тонкие пленки

Кольца Ньютона

Слайд 4

Интерференция в тонких пленках Отражение от более плотной среды - условие

Интерференция в тонких пленках

Отражение от более плотной среды

- условие максимума
интерференции


– условие максимума при интерференции на тонкой пленке

Слайд 5

Виды интерференционных картин на тонких пленках Условия: h = const, пучок

Виды интерференционных картин на тонких пленках

Условия: h = const, пучок лучей

широкий и параллельный

1. Цвета тонких пленок
– интерференция при освещении пленки широким пучком

Слайд 6

2. Линии равного наклона Условия: h = const, λ = const,

2. Линии равного наклона

Условия: h = const, λ = const, световой

пучок – расходящийся.

Полосы локализованы в бесконечности, имеют вид колец.

Свойства полос равного наклона

Слайд 7

Кольца Ньютона , т.к. b2 → 0

Кольца Ньютона

, т.к. b2 → 0

Слайд 8

Условие максимума (светлые кольца) ∆ = m λ, где m –

Условие максимума (светлые кольца) ∆ = m λ, где m –

целое число.

- радиус m-го светлого кольца в отраженном свете
(и темного – в прошедшем)

Условие минимума (темные кольца) ∆ = (m + ½) λ.

- радиус m-го темного кольца в отраженном свете
(и светлого – в прошедшем)

Кольца Ньютона в зеленом и красном свете

Пример применения – проверка качества шлифовки линз.

Слайд 9

3. Линии равной толщины Условия: толщина пленки плавно изменяется (h ≠

3. Линии равной толщины

Условия: толщина пленки плавно изменяется (h ≠

const), представляя собой клин. Пучок параллельный.

Система полос равной толщины

- максимум (светлая полоса)

- минимум (темная полоса)

Слайд 10

Задание. Определите, какие два зазора из представленных пяти соответствуют данным системам

Задание. Определите, какие два зазора из представленных пяти соответствуют данным системам

интерференционных полос равной толщины:

Пример применения - определение качества обработки поверхностей

Слайд 11

Примеры применения 1. Просветление оптики 2. Получение диэлектрических зеркал Схема многослойного

Примеры применения

1. Просветление оптики

2. Получение диэлектрических зеркал

Схема многослойного диэлектрического
покрытия

(n1>n0, n1>n2, n1l1 = n2l2 = λ0/4)

С семью слоями R = 0,9 в спектральной области шириной порядка 50 нм. Для получения коэффициента отражения R = 0,99 (такие зеркала используются в лазерных резонаторах) надо нанести 11-13 слоев.

Слайд 12

Интерферометры Интерферометр Майкельсона P1 – светоотделитель (полупрозрачная пластинка) S1′- референтная плоскость

Интерферометры

Интерферометр Майкельсона

P1 – светоотделитель (полупрозрачная пластинка)
S1′- референтная плоскость (плоскость сравнения)


– совпадает с изображением зеркала S1 в полупрозрачном слое.
Если зеркало S2 совпадает с референтной плоскостью, то ∆ = 2(L1 – L2) = 0
Слайд 13

Можно получить 2 класса картин: Линии равного наклона Линии равной толщины

Можно получить 2 класса картин:

Линии равного наклона

Линии равной толщины

Зеркало S2 смещено

от референтной
плоскости, между S1 и S2 как бы
плоскопараллельная пластинка.
От источника света - расходящийся пучок.

Зеркало S2 наклонено к референтной
плоскости. От источника света
- параллельный пучок (через линзу)

Слайд 14

Фурье - спектрометр Для исследований ИК-части спектра слабых источников

Фурье - спектрометр

Для исследований ИК-части спектра слабых источников

Слайд 15

Устройства для наблюдения Интерферометр Фабри - Перо Многолучевая интерференция

Устройства для наблюдения

Интерферометр Фабри - Перо

Многолучевая интерференция

Слайд 16

График распределения интенсивности и фотография интерференционной картины Пластинка Люммера - Герке

График распределения интенсивности и фотография интерференционной картины

Пластинка Люммера - Герке


m - несколько десятков тысяч

Применение - спектроскопия высокого разрешения в среднем ультрафиолетовом диапазоне (длины волн 0,1-0,2 мкм).

Слайд 17

Распределение интенсивности Кривые распределения интенсивности в проходящем свете R – коэффициент отражения

Распределение интенсивности

Кривые распределения интенсивности в проходящем свете

R – коэффициент

отражения
Слайд 18

Распределение интенсивности 1. Главные максимумы Анализ картины интерференции 2. Минимумы Δmax

Распределение интенсивности

1. Главные максимумы

Анализ картины интерференции

2. Минимумы

Δmax = mλ

1, 2,

3… окружности
Слайд 19

Интерферометр Линника Предназначен для оценки качества поверхности. Для этого одно из

Интерферометр Линника
Предназначен для оценки качества поверхности.
Для этого одно из зеркал

нужно заменить поверхностью.

Интерферометр Релея
Предназначен для измерения показателей преломления газов и жидкостей

Внизу свет идет вне кювет. Нижняя система интерференционных полос - шкала для отсчета. Добавочная разность хода ∆ = (n2 - n1)l, где n1 и n2 - коэффициенты преломления веществ, заполняющих кюветы. Верхняя система полос сдвинута относительно нижней. По смещению с помощью компенсатора определяют n2 - n1. Позволяет обнаружить изменение n2 - n1 около 10-7.

Слайд 20

Интерферометр Маха-Цендера предназначен для интерференционных измерений модуляции плотности в газовых потоках

Интерферометр Маха-Цендера
предназначен для интерференционных измерений модуляции плотности в газовых потоках (в

аэродинамических трубах и т.п.). 

n = 1+mλ/L,
где L - длина кюветы,
m - порядок интерференции

Слайд 21

Применение интерференции Для измерений: Длины волны λ Коэффициента преломления n Длин

Применение интерференции

Для измерений:
Длины волны λ
Коэффициента преломления n
Длин

эталонов
Малых перемещений
Деформаций
Качества обработки поверхностей
Слайд 22

Когерентность Реальные световые волны Общая идея получения когерентных волн Если Δφ

Когерентность

Реальные световые волны

Общая идея получения когерентных волн

Если Δφ ≠ const

→ (‹cos Δφ› = 0) → I = I1 + I2 - закон фотометрического
сложения.
Излучение от отдельного источника – набор цугов с хаотически
распределенными фазами и направлениями вектора E → волны,
излучаемые двумя независимыми источниками не когерентны.
Слайд 23

Условие временной когерентности: Δ12 – разность хода, вносимая схемой Δt –

Условие временной когерентности:

Δ12 – разность хода, вносимая схемой
Δt – время запаздывания

одного цуга относительно другого

τ Δν ≈ 1 → τ ког ≈ 1/ Δν
ν = с/λ →

Δ λ – ширина полосы пропускания фильтра или ширина спектральной линии

Оценка ℓког и τ ког

Слайд 24

Временная когерентность

Временная когерентность

Слайд 25

Примеры Оценка максимального числа интерференционных полос Условия когерентности

Примеры

Оценка максимального числа интерференционных полос

Условия когерентности

Слайд 26

Условие пространственной когерентности Размытие интерференционной картины

Условие пространственной когерентности

Размытие интерференционной картины

Слайд 27

δх - смещение 0-го max → - угловой размер источника Из

δх - смещение 0-го max


- угловой размер источника

Из подобия треугольников

Условие

наблюдения картины
интерференции:

Оценочное условие пространственной когерентности:

Предельное расстояние между щелями:

– радиус когерентности волнового поля, максимальное
расстояние между точками волновой поверхности, на котором вторичные волны, испускаемые этими точками, еще будут когерентными.

Слайд 28

Пример При наблюдении картины интерференции от Солнца (его угловые размеры φ

Пример
При наблюдении картины интерференции от Солнца
(его угловые размеры φ =

0,1 рад) для λ0 = 550 нм

Объем когерентности

- объединенное условие пространственной и временной когерентности

Условие временной когерентности:
(повторение)

Слайд 29

Влияние ширины источника на интерференционную картину Условие достаточной резкости картины интерференции: ⇒ ⇒

Влияние ширины источника на
интерференционную картину

Условие достаточной резкости картины интерференции:



Слайд 30

50 – 2000 штрихов на миллиметр Дифракционная решетка

50 – 2000 штрихов на миллиметр

Дифракционная решетка

Слайд 31

Распределение интенсивности N – число источников одинаковой интенсивности (N > 2).

Распределение интенсивности

N – число источников одинаковой интенсивности (N > 2).

δ

– сдвиг фаз между соседними источниками

A0 – амплитуда от одного источника (Е0)

A - результирующая амплитуда (Е)

I ~ A2

http://www.bollywood.im/videos/http://www.bollywood.im/videos/многолучеваяhttp://www.bollywood.im/videos/многолучевая-http://www.bollywood.im/videos/многолучевая-интерференцияhttp://www.bollywood.im/videos/многолучевая-интерференция.html

Слайд 32

Распределение интенсивности 3. Побочные максимумы Анализ картины интерференции 0,5; 1,5; 2,5…

Распределение интенсивности

3. Побочные максимумы

Анализ картины интерференции

0,5; 1,5; 2,5… окружности

Вывод: многолучевая интерференция

характеризуется большой концентрацией энергии в главных максимумах