Отладка электронных устройств на МК
2) Внутрисхемные эмуляторы
Обычно внутрисхемные эмуляторы подключаются
по интерфейсу JTAG (Joint Test Action Group).
Также этот интерфейс могут называть Boundary-Scan Architecture (BSC) - архитектура граничного сканирования
Рис. 3 – Встраивание архитектуры BSC в устройство
Функциональное назначение линий JTAG:
TDI (test data input — «вход тестовых данных») — вход последовательных данных периферийного сканирования;
TDO (test data output — «выход тестовых данных») — выход последовательных данных;
TCK (test clock — «тестовое тактирование») — тактирует работу встроенного автомата управления периферийным сканированием;
TMS (test mode select — «выбор режима тестирования») — обеспечивает переход схемы в/из режима тестирования и переключение между разными режимами тестирования.