Содержание
- 2. Силовое взаимодействие зонда с поверхностью - Во время контакта преобладает сила упругого отталкивания - задача Герца
- 3. Задача Герца Глубина проникновения Давление в контакте Постановка задачи Герца Зависимость силы от глубины проникновения
- 4. Влияние упругих деформаций на эксперимент Конволюция зонда при сканировании Разрушение материала при сканировании При одинаковых условиях
- 5. Капиллярные силы В большинстве случаев на поверхности исследуемого образца присутствует жидкая пленка микроскопических масштабов. Это приводит
- 6. Ван-дер-ваальсовы силы Ван-дер-ваальсовое взаимодействие состоит из трех типов слабых взаимодействий: - Ориентационные силы, диполь-дипольное притяжение. Осуществляется
- 7. Ван-дер-ваальсовы силы Для кремниевого зонда:
- 8. Силы адгезии Адгезия – прилипание друг к другу находящихся в контакте поверхностей, за счет электростатических сил,
- 9. Силы адгезии Существует несколько теоретических моделей адгезии, имеющих свои области применимости. Наиболее точной является модель Маугиса
- 10. Схема оптической регистрации изгиба консоли Для регистрации сил взаимодействия зонда с поверхностью используют метод, основанный на
- 11. Оптическая система АСМ Изгиб из-за сил, действующих по нормали к поверхности Изгиб под действием латеральных сил
- 13. Зондовые датчики АСМ Сравнительные размеры зондовых датчиков для АСМ
- 14. Технология изготовления кантилеверов Изготовление зондовых датчиков для АСМ представляет собой достаточно сложный технологический процесс, включающий в
- 15. Технология изготовления кантилеверов Покрытие Au, Al
- 17. Режимы работы АСМ Кантилевер непосредственно касается поверхности и повторяет её форму по мере прохождения поверхности Бесконтактный
- 18. Контактная атомно-силовая микроскопия
- 19. Метод постоянной силы При сканировании образца врежиме Fz = const система обратной связи поддерживает постоянной величину
- 20. Метод постоянной высоты При использовании Метода Постоянной Высоты сканер микроскопа поддерживает закрепленный конец кантилевера на постоянной
- 21. Контактный метод рассогласования Метод постоянной силы обладает определенными недостатками, связанными с использованием системы обратной связи. Скорость
- 22. Примеры применения контактного метода рассогласования Пленка ПВП, метод постоянной силы Метод рассогласования
- 23. Микроскопия сил трения Позволяет различать области с различными коэффициентами трения, а также подчеркивать особенности рельефа поверхности.
- 24. Метод Модуляции Силы В процессе реализации метода одновременно со сканированием образца в соответствии с методом постоянной
- 25. Недостатки контактной АСМ Недостатком контактных АСМ методик является: непосредственное механическое взаимодействие зонда с поверхностью. Это часто
- 26. Недостатки контактной АСМ - Неконсервативные эффекты - Проминание наклонной области
- 27. Предельное разрешение в АСМ Радиус закругления зонда Радиус зонда R намного меньше радиуса закругления r исследуемых
- 28. Бесконтактный режим работы АСМ В бесконтактном режиме кантилевер совершает вынужденные колебания с малой амплитудой порядка 1
- 29. Прерывисто-контактные методики атомно-силовой микроскопии
- 30. Полуконтактный режим работы АСМ Регистрация изменения амплитуды и фазы колебаний кантилевера в бесконтактном режиме требует высокой
- 31. Примеры использования полуконтактной АСМ Хитозановый нановолокнистый материал Хитозановый материал с антимикробной активностью, содержащий левомицетин
- 32. Метод фазового контраста Когда в процессе колебаний кончик зонда касается поверхности образца он испытывает не только
- 33. Пример применения метода фазового контраста Изображения рельефа и фазы полиэтилена
- 34. Зондовая НаноЛаборатория ИНТЕГРА Прима СЗМ, который является центральным звеном комплектации ИНТЕГРА Прима, вобрал в себя все
- 35. Примеры применения Исследование кристаллизации полимеров
- 36. Примеры применения Атомарное разрешение MoTe2
- 37. Примеры применения Исследования направленной кристаллизации стекла 2Bi2O3 – 3GeO2 – xFe2O3
- 38. Примеры применения
- 39. Примеры применения Исследование полимеров Поливинилпирролидон Полиоксибутират
- 40. Примеры применения CdF2/CaF2 эпитаксиальная пленка выращенная на Si(100) Размер: 1.6x1.6 um
- 41. Примеры применения Изображение эпитаксиальной MnAs ферромагнитной пленки выращеной на Si(111) с As буферным слоем Размер: 6.3x6.3
- 43. Скачать презентацию