Основные этапы разработки устройств на МК. (Лекция 17)

программные симуляторы;
- внутрисхемные эмуляторы;
- платы развития (оценочные платы).

1) Программные симуляторы

отладка осуществляется на основе имитационной модели МК

Рис. 2 – Внешний вид работающего симулятора AVR Studio

по интерфейсу JTAG (Joint Test Action Group).
Также этот интерфейс могут называть Boundary-Scan Architecture (BSC) - архитектура граничного сканирования

Рис. 3 – Встраивание архитектуры BSC в устройство

Функциональное назначение линий JTAG:
TDI (test data input — «вход тестовых данных») — вход последовательных данных периферийного сканирования;
TDO (test data output — «выход тестовых данных») — выход последовательных данных;
TCK (test clock — «тестовое тактирование») — тактирует работу встроенного автомата управления периферийным сканированием;
TMS (test mode select — «выбор режима тестирования») — обеспечивает переход схемы в/из режима тестирования и переключение между разными режимами тестирования.

программирование;
последовательное программирование (внутрисхемное);
программирование по интерфейсу внутрисхемного эмулятора;
самопрограммирование.

1) Параллельное программирование

Рис. 4 – Линии МК, задействованные при параллельном программировании

МК, задействованные при последовательном программировании

памяти для реализации возможности самопрограммирования