Методы травления материалов электронной техники

Содержание

Слайд 2

Введение Под травлением понимают растворение и последующее удаление заданной части материала

Введение

Под травлением понимают растворение и последующее удаление заданной части материала

с поверхности;
При травлении испытываются адгезия, уровень дефектности и химическая инертность резиста;
Наиболее важными параметрами процесса являются стойкость резиста к травлению и его адгезия к подложке.
Слайд 3

Виды травления Жидкостное (химическое) травление: а) анизотропное; б) изотропное; в) селективное.

Виды травления

Жидкостное (химическое) травление:
а) анизотропное;
б) изотропное;
в) селективное.
Сухое

(плазменное) травление:
а) ионное;
б) ионно-химическое;
в) плазмохимическое.
Слайд 4

Химическое травление. Анизотропное. Анизотропное травление широко используется в технологии ИМС, особенно

Химическое травление. Анизотропное.

Анизотропное травление широко используется в технологии ИМС, особенно для

создания узких разделяющих щелей;
Травление идет медленно и требуется нагрев раствора до температуры, близкой к его кипению.
Слайд 5

Химическое травление. Изотропное. Травление идет с одинаковой скоростью во всех направлениях

Химическое травление. Изотропное.

Травление идет с одинаковой скоростью во всех направлениях –

как вглубь, так и под маску;
Основным компонентом травителя является плавиковая кислота HF;
W > W0 + 2d, где W – размер вытравленной области, W0 – размер отверстия в маске, d – толщина слоя диоксида кремния.
Слайд 6

Химическое травление. Селективное. Применяют для растворения определенного металла в многослойной пленочной

Химическое травление. Селективное.

Применяют для растворения определенного металла в многослойной пленочной структуре;
Мерой

селективности служит отношение скоростей растворения разных металлов при одновременном воздействии одного травителя.
Слайд 7

Недостатки химического травления Невысокая разрешающая способность Изотропность травления Появление загрязнений на поверхности подложек

Недостатки химического травления

Невысокая разрешающая способность
Изотропность травления
Появление загрязнений на поверхности подложек

Слайд 8

Плазменное травление При сухих методах существенно уменьшено боковое подтравливание Сухое травление

Плазменное травление

При сухих методах существенно уменьшено боковое подтравливание
Сухое травление слабо зависит от

адгезии защитной маски фоторезиста к подложкам
Слайд 9

Плазменное травление

Плазменное травление

Слайд 10

Плазменное травление. Ионное. Травление выполняют в вакуумных установках путем бомбардировки пластин;

Плазменное травление. Ионное.

Травление выполняют в вакуумных установках путем бомбардировки пластин;
S =

k*m1*m2*E/ λ*(m1+m2), где k — коэффициент, характеризующий состояние поверхности; λ — средняя длина свободного пробега иона в обрабатываемом материале, зависящая от θ.
Слайд 11

Ионно-плазменное травление

Ионно-плазменное травление

Слайд 12

Ионно-лучевое травление Луч ионов формируется специальным газоразрядным источником и системами вытягивания

Ионно-лучевое травление
Луч ионов формируется специальным газоразрядным источником и системами вытягивания и ускорения

ионов
Давление инертного газа в источнике (около 0,1 Па) должно быть достаточно высоким для создания газоразрядной плазмы.
Слайд 13

Ионное травление Достоинства: преимущественное травление в направлении нормали к поверхности; безынерционность

Ионное травление

Достоинства:
преимущественное травление в направлении нормали к поверхности;
безынерционность

Недостатки:
низкие скорости травления (0,1–1

нм/с);
значительные радиационные и тепловые воздействия
Слайд 14

Плазмохимическое травление

Плазмохимическое травление

Слайд 15

Плазмохимическое травление

Плазмохимическое травление

Слайд 16

Ионно-химическое травление Процессы ИХТ обладают высокой анизотропией и используются в качестве

Ионно-химическое травление

Процессы ИХТ обладают высокой анизотропией и используются в качестве универсального процесса

травления материалов;
Процессы ИХТ обладают способностью воспроизвести с шаблонов субмикронные (0,3 – 0,5 мкм) структуры.
Слайд 17

Недостатки метода: низкая избирательность травления; повреждение поверхности микросхем фотонами или частицами

Недостатки метода:
низкая избирательность травления;
повреждение поверхности микросхем фотонами или частицами плазмы;
возможное присутствие

на подложке мелких нежелательных частиц.

Плазменное травление

Слайд 18

Заключение Жидкостные методы очистки не всегда позволяют получать поверхность, свободную от

Заключение

Жидкостные методы очистки не всегда позволяют получать поверхность, свободную от органических

растворителей;
плазменное травление по сравнению с жидкостным химическим дает небольшое преимущество по надежности и выходу годных микросхем;
«сухие» методы обеспечивают высокую чистоту подложек и не токсичны.