Применение рассеяния нейтронов для решения структурных и материаловедческих задач (нейтронография)

Рис. 1-1. Диаграмма, иллюстрирующая доступные для различных нейтронных спектрометров области на

Рис. 1-2. Основные типы взаимодействия тепловых нейтронов с веществом. Для получения

Рис. 2-1. Спектральное распределение плотности нейтронного потока для разных температур замедлителя,

Рис. 3-1. Сравнение нейтронных дифракционных спектров, измеренных от “хорошего” (Al2O3, внизу)

Рис. 3-2. Схема рассеяния волны в точке, не совпадающей с началом

Рис. 3-3. Схема рассеяния волны на совокупности объектов, положения
которых в

Рис. 4-1. Схема центральной части стационарного исследовательского нейтронного реактора. Обозначены: 1

Рис. 4-2. Схема образования нейтронных импульсов на реакторе ИБР-2. Рядом с

Рис. 4-3. Дифракционный спектр Na2Al2Ca3F14 (NAC стандарт), измеренный на HRPT
при

Рис. 4-4. Схема TOF-дифрактометра. Как правило, расстояние от активной зоны до

Рис. 4-5. Схема фурье-прерывателя (вверху), его функция пропускания и фазировка двоичного

Рис. 4-6. Функциональная схема фурье-дифрактометра. На корреляционную электронику подаются сигналы, моделирующие

Рис. 4-7. Участок дифракционного спектра Al2O3, измеренный на дифрактометрах HRPD (ISIS)

Рис. 4-8. Дифракционный спектр YBa2Cu3O7, измеренный на дифрактометре HRFD в режиме

Рис. 5-1. К выводу формулы Вульфа-Брэгга. Наличие δ-функции в сечении рассеяния

Рис. 5-2. Диаграмма Эвальда. Изображено сечение (b1, b2) обратной решетки и

Рис. 5-3. Сферы отражения и ограничения. Изображено сечение (b1, b2) обратной

Рис. 5-4. Формирование объема разрешения в обратном пространстве. Неопределенность вдоль вектора

Рис. 5-5. Выбор границ (λmin и λmax) рабочего интервала при максвелловском

Рис. 5-6. Сканирование обратного пространства на TOF-дифрактометре с помощью точечного детекторa.

Рис. 5-7. Сканирование обратного пространства на TOF-дифрактометре с помощью однокоординатного (1D)

Рис. 5-8. Схема формирования дифракционного спектра от поликристалла на λ0-дифрактометре с

Рис. 5-9. Схема эксперимента на TOF-дифрактометре с источником (1) и детектором

Рис. 5-10. Стандартная геометрия λ0-дифрактометра для поликристаллов: коллиматор с параметром α1

Рис. 5-11. Вычисленная функция разрешения λ0-дифрактометра HRPT. На вставке указано:
мода

Рис. 5-12. Кривые разрешения для TOF-дифрактометра на источнике типа SPS при

Рис. 5-13. К выводу условий фокусировки для замедлителя (З) и детектора

Рис. 5-14. Коэффициент отражения нейтронов от гладкой плоской поверхности. Критический угол

Рис. 5-15. Максвелловские спектры нейтронов (пунктирные линии) от замедлителя с Т

Рис. 5-16. Зависимости от длины волны эффективного спектра нейтронов, Ф´(λ), фактора

Рис. 6-1. Экспериментальное распределение интенсивности в узле (220) кристалла KD2PO4 при

Рис. 6-2. Участок дифракционного спектра кристалла SBN, измеренный на TOF-дифрактометре с

Рис. 6-3. Тепловое диффузное рассеяние нейтронов в кристаллах SBN, измеренное на

Рис. 7-1. Дифракционный спектр Na2Al2Ca3F14, измеренный на HRPT (SINQ) при λ

Рис. 7-2. Зависимости от температуры межатомных расстояний Mn-O (слева) и валентных

Рис. 7-3. Форма пика, измеряемого на фурье-дифрактометре с разными частотными распределениями

Рис. 7-4. Дифракционный спектр Na2Al2Ca3F14, измеренный на HRFD (ИБР-2) при скорости

Рис. 7-5. Зависимость ширины дифракционных пиков β-Ni(OH)2 для различных значений индекса

Рис. 7-6. Дифракционный спектр Na2Al2Ca3F14, измеренный на D20 (ILL) за 2

Рис. 7-7. Анализ структурного фазового перехода в шпинели CuLi0.1V0.1Fe1.8O4 на ДН-2

Рис. 7-8. Температурные зависимости структурных параметров шпинели CuLi0.1V0.1Fe1.8O4, измеренные в ходе

12 Å

15 Å

Время

TOF

Время

TOF

(2201)

(2212)

Дифракционные пики

Рассеяние на малые углы

Изменения температуры и

L1

Источник

Детекторы

Образец

Рис. 7-10. Результат модельного эксперимента, проведенного на реакторе ИБР-2 с порошком

Рис. 7-11. Камера высокого давления с сапфировыми наковальнями.

Прерыватель

Зеркальный
нейтроновод

Кольцевой детектор

Образец

Рис. 7-12. Схема спектрометра для микрообразцов на реакторе ИБР-2 (вверху)

Рис. 7-13. Приведенный структурный фактор F(Q) кристаллического Ni, измеренный до Qmax

Рис. 7-14. Экспериментальная и вычисленные функции G(r) в области малых r

Рис. 8-1. Некоторые типы магнитных структур. Показаны диа-, пара-, ферро- и

FM+AFM

AFM

Рис. 8-2. Дифракционные спектры, измеренные при 12 К на λ0-дифрактометре DMC

Рис. 8-3. Зависимости от температуры магнитных моментов (в магнетонах Бора) для

Рис. 9-1. Постановка эксперимента по измерению внутренних напряжений в объемном материале

Рис. 9-2. Дифракционный пик (110) (слева) от недеформированного α-Fe (d ≈

Рис. 9-3. Биметаллический переходник сталь – сплав циркония. Показаны область А-В

Рис. 9-4. Величины радиальных остаточных напряжений в сечении 3 (черные квадраты)