Содержание
- 2. Линейная развертка потенциала (potential sweep)
- 3. Линейная развертка потенциала (обратимая реакция) E’
- 4. Циклическая вольтамперометрия
- 5. Циклическая вольтамперометрия DO = DR n(E - E0’), V
- 6. Циклическая вольтамперометрия обратимая э/х реакция independent of n(E - E0’), V
- 7. Макро- и микроэлектрод обратимая э/х реакция ø = 1.5 mm ø = 10 µm 4 mM
- 8. Макро- и микроэлектрод обратимая э/х реакция ø = 10 µm
- 9. Циклическая вольтамперометрия влияние емкости
- 10. Циклическая вольтамперометрия необратимая э/х реакция нет обратного пика (одноэлектронная)
- 11. Циклическая вольтамперометрия квазиобратимая э/х реакция
- 12. Сопряженная химическая реакция каталитический механизм
- 13. Сопряженная химическая реакция каталитический механизм +glucose
- 14. Сопряженная химическая реакция каталитический механизм
- 15. Циклическая вольтамперометрия (адсорбция)
- 16. Циклическая вольтамперометрия (влияние адсорбции)
- 17. Циклическая вольтамперометрия (влияние адсорбции) scan rate
- 18. Циклическая вольтамперометрия (влияние адсорбции)
- 19. Посадка-cнятие оксидного слоя Au
- 20. Берлинская лазурь
- 21. Электрополимеризация
- 22. ОБРАТИМЫЙ ПЕРЕНОС ЭЛЕКТРОНА С ЦИТОХРОМА С НА ПОВЕРХНОСТЬ ЭЛЕКТРОДА
- 23. J. Chem. Soc. , Chem. Commun. (1977) 71 ОБРАТИМЫЙ ПЕРЕНОС ЭЛЕКТРОНА С ЦИТОХРОМА С НА ПОВЕРХНОСТЬ
- 24. Наночастицы Royce W. Murray Chem. Rev. 2008, 108, 2688–2720
- 25. Наночастицы Royce W. Murray Chem. Rev. 2008, 108, 2688–2720 Au140 MPC
- 26. Наночастицы Royce W. Murray Chem. Rev. 2008, 108, 2688–2720 Au25 MPC
- 27. Наночастицы
- 28. Инверсионная вольтамперометрия (stripping voltammetry)
- 29. Анодная инверсионная вольтамперометрия 1. Преконцентрирование: 2. Определение: от 30 сек. для 10-7 M до 20 мин.
- 30. Анодная инверсионная вольтамперометрия
- 31. Анодная инверсионная вольтамперометрия
- 32. Анодная инверсионная вольтамперометрия большие v и l малые v и l
- 33. Анодная инверсионная вольтамперометрия пленка капля
- 34. Адсорбционная инверсионная вольтамперометрия
- 35. Адсорбционная инверсионная вольтамперометрия
- 36. Катодная инверсионная вольтамперометрия DNA 0.5 ppm 1÷150 c времена накопления
- 37. Abbe Limit far field near field detector lense lense aperture sample Fourier transformation x,y,z-positioning elements near-field
- 38. 1981: scanning tunneling microscopy (STM) (Binnig et al., Helv. Phys. Acta, 55 (1982) 726) 1984: near-field
- 39. History - Probing diffusion layers Royce C. Engstrom, Trevor Meaney, Ray Tople, R. Mark Wightman Anal.
- 40. History - Introduction & principles of SECM - I A.J. Bard, F.R.F. Fan, J. Kwak, O.
- 41. 0 5 10 15 20 25 0 0.5 1 1.5 d / r Positive Feedback Mode
- 42. 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 0 2 4 6 8 10 d / r
- 43. SECM – Working Modes conductive positive feedback bulk solution negative feedback insulating S generator-T collector I
- 44. SECM tips Metal Microelectrodes Disk-in-Glass Microelectrodes Submicrometer Glass-Encapsulated Microelectrodes Electrochemical Etching of Metal Wires Self-Assembled Spherical
- 45. Pt-Nanoelectrodes
- 46. Characterization of Nanoelectrodes by Means of CV 10 mM [Ru(NH3)6]3+; 100 mVs-1 B. Ballesteros Katemann, W.
- 47. SECM Approach Curves with Nanoelectrodes 5 mM [Ru(NH3)6] 3+ ; 0.1 M KCl vs Ag/AgCl pseudo
- 48. Scanning Electrochemical Microscopy – System Set-Up potentio-stat PC x,y,z-positioning
- 49. Scanning Electrochemical Microscopy – System Set-Up x,y,z-Positioning
- 50. Pt – band electrode. Constant Height Imaging Sample supplied by Milena Koudelka-Hep, Institute of Microtechnology, Neuchatel,
- 51. Etching of Semiconductors - GaAs D. Mandler, A. J. Bard J. Electrochem. Soc. 137 (1990), 2468
- 52. Deposition of Polypyrrol on Au C. Kranz, M. Ludwig, H.E. Gaub, W. Schuhmann Adv. Mater. 7
- 53. Tip crash and surface tilt
- 54. Optical shearforce mode M. Ludwig, C. Kranz, W. Schuhmann, H. Gaub Rev. Sci. Instr. 66 (1995),
- 55. Lock-In Scanning Electrochemical Microscopy – High-Resolution Shearforce Positioning
- 56. 5 mM [Ru(NH3)6]3+, 25 µm Pt-electrode constant-height mode constant-distance mode current topography current Scanning Electrochemical Microscopy
- 57. shear-force image (topography) shear-force image SECM image AFM image Constant-Distance Mode SECM with sub-µm Electrodes B.
- 58. Hyphenated Techniques: AFM - SECM C. Kranz, G. Friedbacher, B. Mizaikoff, A. Lugstein, J. Smoliner und
- 60. Скачать презентацию