Дифракция в кристаллах

Содержание

Слайд 2

Дифракция в кристаллах 2. Условие дифракции Лауэ 3. Эквивалентность формулировок Брэгга и Лауэ

Дифракция в кристаллах

2. Условие дифракции Лауэ

3. Эквивалентность формулировок
Брэгга и Лауэ

Слайд 3

Уравнение Лауэ для амплитуды рассеяния

Уравнение Лауэ для амплитуды рассеяния

Слайд 4

Структурный фактор базиса 6666 Структурный фактор ОЦК решетки

Структурный фактор базиса

6666

Структурный фактор ОЦК решетки

Слайд 5

Структурный фактор ГЦК решетки 6666

Структурный фактор ГЦК решетки

6666

Слайд 6

Атомный фактор рассеяния 6666 Форм-фактор углерода Форм-фактор алюминия

Атомный фактор рассеяния

6666

Форм-фактор
углерода

Форм-фактор алюминия

Слайд 7

Температурная зависимость линий отражения 6666 Множитель Дебая-Уоллера Температурная зависимость интенсивности дифракционных максимумов (h00) для алюминия

Температурная зависимость линий отражения

6666

Множитель Дебая-Уоллера

Температурная зависимость
интенсивности дифракционных
максимумов (h00) для алюминия

Слайд 8

Экспериментальные методы рентгеновского спектроскопического анализа 6666 Построение Эвальда Монохроматическое излучение (λ

Экспериментальные методы рентгеновского спектроскопического анализа

6666

Построение Эвальда

Монохроматическое
излучение (λ = сonst)

Немонохроматическое

излучение ( )
Слайд 9

МЕТОД ЛАУЭ Схема камеры Лауэ Дифракционная картина

МЕТОД ЛАУЭ

Схема камеры Лауэ

Дифракционная картина

Слайд 10

МЕТОД ВРАЩАЮЩЕГОСЯ КРИСТАЛЛА Схема камеры в методе вращающегося кристалла Построение Эвальда для метода вращающегося кристалла

МЕТОД ВРАЩАЮЩЕГОСЯ КРИСТАЛЛА

Схема камеры в методе
вращающегося кристалла

Построение Эвальда для
метода вращающегося
кристалла

Слайд 11

МЕТОД ДЕБАЯ-ШЕРРЕРА Схема камеры в методе Дебая-Шеррера Рентгенограммы кремния, полученные методом

МЕТОД ДЕБАЯ-ШЕРРЕРА

Схема камеры в методе Дебая-Шеррера

Рентгенограммы кремния, полученные методом
Дебая-Шеррера: а)

на пленке; б) с помощью счетчика

а)

б)