ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

Краевая дислокация.
Экстраплоскость
выделена зеленым цветом,
а плоскость скольжения –

Винтовая дислокация в кристалле:

Винтовая дислокация
b - вектор Бюргерса; экстраплоскость

в) Плоские дефекты

Г) Объемные дефекты: поры,
включения второй фазы

3. Поликристаллы Поликристалл состоит из множества реальных мелких монокристаллов

Дальний порядок существует только

1913

1895

1927

1897

1932

1936

Дифракционные методы исследования
структурного состояния материалов

Кристаллы
берилла
Al2[Be3(Si6O18)]

X-ray–электромагнитные волны

e-

no

Рентгенография

Нейтронография

Электронография

Спектры тормозного
излучения для разных
величин ускоряющего
напряжения трубки

Схема рентгеновской трубки

Рис.4. Схемы возникновения характеристического рентгеновского излучения

Рис.5

Вид рентгеновских спектров излучения для трубок
с молибденовым (Mo) и медным

Рис. 6. Семейство плоскостей (231)

Кристаллографические плоскости. Индексы Миллера

Кристаллографические плоскости.Индексы Миллера

Рис. 7. Кристаллографические плоскости.

Рис. 8. Отражение падающих лучей семейством плоскостей

Условия Лауэ - условия возникновения дифракционного максимума в кристаллах:

Рис. 9. К

Схема получения лауэграммы (а); вид дифракционной картины для кристалла (б): эллипсы,

Рис. 13 Лауэграммы берилла Al2Be3Si6O18

Произвольная установка (Тонкими ли-
ниями показаны зональные кривые.

2. Метод вращения Исследуемый образец – монокристалл,
излучение монохроматическое

а)

Рис.

Рис. 15. Рентгенограмма вращения монокристалла миоглобина

Рис. 16. Камера Дебая;

3. Метод порошка (Дебая − Шеррера)

Рис. 17. Установка камеры Дебая на рентгеновском аппарате

Рис. 18.Схема съемки рентгенограммы по методу Дебая — Шеррера:

3

Рис. 19. Схема дебаеграммы

Рис. 20. Фотография дебаеграммы сплава Fe-Al

Рис. 24. Фотография дебаеграммы полученной на
немонохроматическом излучении

Расчет дебаеграмм, полученных фотометодом

Табл. 2. Индексы интерференции hkl, их сумма квадратов h2+ k2+l2 и

Табл. 3. Связь между величиной, обратной квадрату межплоскостного расстояния, и периодами

Расчет периода элементарной ячейки

Рис.25.

Рис.26.

Рис.27 Зависимости периодов a, b, c элементарной ячейки керамики YBa2Cu3 O7-δ

Рис.29. Зависимости периодов a, b, c/3 элементарной ячейки керамики YBa2-xLaxCu3O7-δ от

31

ARL X’TRA

Рентгеновский дифрактометр

Рис. 21.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6

ГУР-9;

Рис.22.