Содержание
- 2. Хронология развития представлений о сущности света. В XVII веке: Гримальди Франческо
- 3. Хронология развития представлений о сущности света.
- 4. Дифракционный предел — это минимальное значение размера пятна (пятно рассеяния), которое можно получить, фокусируя электромагнитное излучение.
- 5. Хронология развития представлений о сущности света. В XVII веке: Ньютон Дисперсия света — это разложения света
- 6. Хронология развития представлений о сущности света. В XVII веке: Расмус Бартолин Двулучепреломление - эффект расщепления в
- 7. Хронология развития представлений о сущности света. В XX веке: Макс Планк Квантовая природа света. Фотоэлектрический эффект
- 8. Принцип Неопределенности Гейзенберга В классической физике, построенной на ньютоновских принципах и применимой к объектам нашего обычного
- 9. Принцип Неопределенности Гейзенберга А как же тогда «монтажникам» найти нужные атомы и ими орудовать, если электроны,
- 10. Принцип Неопределенности Гейзенберга А как же тогда «монтажникам» найти нужные атомы и ими орудовать, если электроны,
- 11. Инструменты для изучения вещества Как мы уже увидели, оптический микроскоп не может нам помочь с изучением
- 12. Инструменты для изучения вещества Сканирующий электронный микроскоп Метод был разработан Г. Биннигом и Г. Рорером, которым
- 13. Инструменты для изучения вещества Сканирующий электронный микроскоп Атомно-силовой микроскоп Если подвести зонд к образцу на расстояние
- 14. Инструменты для изучения вещества Сканирующий электронный микроскоп Атомно-силовой микроскоп Если подвести зонд к образцу на расстояние
- 15. Инструменты для изучения вещества Сканирующий электронный микроскоп Атомно-силовой микроскоп Если подвести зонд к образцу на расстояние
- 16. Инструменты для изучения вещества Сканирующий электронный микроскоп Атомно-силовой микроскоп Потенциал Леннард-Джонса (потенциал 6-12)
- 17. Инструменты для изучения вещества Сканирующий электронный микроскоп Атомно-силовой микроскоп
- 18. Инструменты для изучения вещества Сканирующий электронный микроскоп Атомно-силовой микроскоп
- 20. Скачать презентацию