- Главная
- Физика
- Основные параметры импульсной лазерной закалки и характеристики упрочненной поверхности
Содержание
- 2. Обработку проводят в расходящемся пучке, так как это позволяет обеспечить оптимальные показатели качества термоупрочнения (рис. 4.38).
- 3. Особенности лазерной закалки в защитных средах Схема 1.Применение сопла, удобнп для визуального контроля за процессом Схема
- 4. При фокусировании излучения сферической оптикой облученная. зона в плане имеет вид круга диаметром D. Тогда в
- 5. Производительность процесса двухкоординатной обработки Это выражение может быть использовано для ориентировочной оценки производительности, так как реальные
- 6. Схемы поверхностной обработки импульсным излучением Таблица Схемы наложения нескольких пятен при Кп > 1 (а) и
- 7. При использовании цилиндрической оптики увеличивается и производительность обработки, но практика показывает, что обход по контуру для
- 9. Скачать презентацию
Обработку проводят в расходящемся пучке, так как это позволяет обеспечить оптимальные
Обработку проводят в расходящемся пучке, так как это позволяет обеспечить оптимальные
Упрочненная одним импульсом зона лазерного воздействия в поперечном сечении имеет вид сегмента глубиной h и шириной b. Обычно ширина зоны не равна диаметру пятна dп
Рис. 4.38. Схема импульсной
лазерной закалки: 1-луч лазера; 2 –линза; 3 -деталь
Особенности лазерной закалки в защитных средах
Схема 1.Применение сопла, удобнп для визуального
Особенности лазерной закалки в защитных средах
Схема 1.Применение сопла, удобнп для визуального
Схема 2. Уменьшает возможность попадания воздуха в зону обработки
Схема 3. Уменьшает динамическое воздействие газовой струи на зону обработки
Схема 4. из-за возможности загрязнения линзы, редко применяется.эта схема
При фокусировании излучения сферической оптикой облученная. зона в плане имеет вид
При фокусировании излучения сферической оптикой облученная. зона в плане имеет вид
, где D длина участка упрочнения; t -время обработки; п -число импульсов; K0 — коэффициент перекрытия; f — частота следования импульсов.
При двух координатной обработке одними из основных параметров является шаг s относительного перемещения по оси х и шаг s' перемещения по оси у. От соотношения этих шагов и диаметра зоны облучения зависят степень заполнения (упаковки) профиля, эффективность процесса. Обработка может быть реализована по одной из четырех схем (табл. 2). Эффективность обработки по схеме характеризуется коэффициентом использования импульсов Ки, который определяется из соотношения
где F' — площадь облученной поверхности
Производительность процесса двухкоординатной обработки
Это выражение может быть использовано для ориентировочной оценки
Производительность процесса двухкоординатной обработки
Это выражение может быть использовано для ориентировочной оценки
К технологическим характеристикам упрочнения импульсным излучением относятся размерные параметры (диаметр единичной зоны упрочнения, ширина линейного упрочнения, глубина упрочненной зоны), степень упрочнения (микротвердость), шероховатость обработанной поверхности и др. Па эти характеристики влияют вид обрабатываемого материала, схема обработки, энергетические параметры облучения, эффективность поглощения излучения, среда и т. п. Так, с увеличением плотности мощности излучения q возрастает - как ширина В (диаметр единичного пятна D), так и глубина И зоны линейного упрочнения. Однако для каждого вида материалов существует некоторое пороговое значение q, после которого начинается разрушение (эрозия) материала.
Схемы поверхностной обработки импульсным излучением Таблица
Схемы наложения нескольких пятен при
Схемы поверхностной обработки импульсным излучением Таблица
Схемы наложения нескольких пятен при
(без перекрытия, с перекрытием)
. Схемы расположения нескольких пятен с обходом по контуру при Кп = 1
При использовании цилиндрической оптики увеличивается и производительность обработки, но практика показывает,
При использовании цилиндрической оптики увеличивается и производительность обработки, но практика показывает,
Принципиально возможны две схемы обхода по контуру (см. рис. 4.42). В схеме 1 пятна во всех рядах расположены друг под другом, а шаг по координате X равен шагу по координате У. Схема 1 более проста для технологического использования и позволяет произвести упрочнение большего контура. Ее применяют при использовании сферической и цилиндрической оптики. В схеме 2 имеет место смещение пятен в рядах на половину шага, причем шаг по координате У меньше, чем шаг по координате X. Схема 2 более сложна в конструктивном исполнении. Ее применяют только при использовании сферической оптики; качество упрочнения при этом выше, так как доля неупрочненной части поверхности здесь меньше.