Дополнительные данные по Texas Instruments

Сентябрь 14, 2022

Главная
Алгебра
Дополнительные данные по Texas Instruments

Содержание

2. single-event effects single event upset (SEU), single event transient (SET), single event functional Interrupt (SEFI), single
3. Базовое ядро для ключевых регуляторов (стабилизаторов) с ШИМ преобразованием Функциональная схема УЭП 609 , показаны контактные
4. Функции и параметры микросхем для ключевых регуляторов(стабилизаторов) понижающего типа
5. Макетная плата Flyback преобразователя Texas Instruments на чипе LM5017 и заказном трансформаторе фирмы WURTH ELEKTRONIK Рабочее
7. Скачать презентацию

Слайд 2

single-event effects
single event upset (SEU),
single event transient (SET),

single event functional Interrupt (SEFI),
single event latchup (SEL),
single event burnout (SEB),
single event gate rupture (SEGR).

Слайд 3

Базовое ядро для ключевых регуляторов (стабилизаторов) с ШИМ преобразованием
Функциональная схема УЭП

609 , показаны контактные площадки кристалла

Слайд 4

Функции и параметры микросхем для ключевых регуляторов(стабилизаторов) понижающего типа

Слайд 5

Макетная плата Flyback преобразователя Texas Instruments на чипе LM5017 и заказном

трансформаторе фирмы WURTH ELEKTRONIK

Рабочее место с подключенным ЭО