Перспективы развития многоканальных лазерных генераторов изображений концерна Планар, предназначенных для производства СБИС
- Перспективы развития многоканальных лазерных генераторов изображений концерна Планар, предназначенных для производства СБИС
Содержание
- 2. Принцип развертки световых пятен
- 3. Оптическая схема проекционного канала.
- 4. Электрооптический дефлектор Электрооптический затвор
- 5. Сравнительные характеристики проекционного канала
- 6. Формула распределения энергии в пятне
- 7. Однородная сетка Белые пятна – основная сетка, черные – вложенная сетка Градация интенсивности пикселя (в серых
- 8. «Вектор», «Открывающий вектор», «Закрывающий вектор», проекция вектора на сетку пикселей Один открывающий вектор, и два закрывающих
- 9. Неоднородная сетка Белые пятна – основная сетка, черные – вложенная сетка
- 10. Аттестация проекционного канала по положению пятен Направление сканирования пятна относительно непрозрачных штрихов при аттестации по X
- 11. Аттестация проекционного канала по положению по Y Направление сканирования пятна относительно непрозрачных штрихов при аттестации по
- 12. Аттестация проекционного канала по интенсивности Пример сигнала аттестации проекционного канала по интенсивности
- 13. Прямоугольник в неоднородной сетке пикселей
- 14. Расчет неоднородной сетки для левых границ Количество шагов сканирования – ( размер пикселя по X )/
- 15. Расчет неоднородной сетки для правых границ Количество шагов сканирования – ( размер пикселя по X )/
- 16. Расчет неоднородной сетки для нижних границ Количество шагов сканирования – ( ширина полосы ) / (дискрет)
- 17. Расчет неоднородной сетки для нижних границ Количество шагов сканирования – ( ширина полосы ) / (дискрет)
- 18. Математическое описание сетки пикселей Массивом из 256 функций Гаусса PG i каждая со след. параметрами Описанием
- 19. Формирование массива параметров пятен Гаусса (PG) Аттестация по положению X Аттестация по положению Y Аттестация по
- 20. Схема преобразования массива пятен Гаусса (PG) в массив с описанием сетки дискрет (SD) Dx, Wx, F0,
- 21. Меню юстировки проекционного канала
- 22. Меню юстировки команда “Масштаб”
- 23. Меню юстировки команда “Масштаб”, рекомендации по использованию корректоров при установке каналов по координате Y
- 24. Меню юстировки команда “Масштаб”, визуализатор сигнала
- 25. Меню юстировки команда “Фокус1”
- 26. Меню юстировки команда “Фокус16”
- 27. Меню юстировки команда “Затвор”
- 28. Меню юстировки команда “Дефлектор”
- 29. Меню юстировки команда “16*16”
- 30. Меню юстировки команда “Интенсивность”
- 31. Меню юстировки команда “Проверка интенсивности”
- 32. Меню юстировки команда “Настройка”
- 33. Проект шаблона.
- 34. Проект шаблона. Участки топологии
- 35. Аттестация координатного стола Аттестация координатной системы предназначена для расчета и устранения погрешностей расположения элементов топологии, связанных
- 36. Последовательность действий в цикле экспонирования 1. Автоматическая аттестация проекционного канала по интенсивности. 2. Измерение масштаба координатной
- 37. Пример искажения изображения. В неоднородной сетке пикселей. Без коррекции по результатам аттестации. Вертикальные линии шириной 0.8мкм
- 38. Пятно сдвинуто по координате Х на 0.2мкм Неровность края из-за погрешности расположения пятна по X. Без
- 39. Неровность края. Однородность размера. Пятно сдвинуто по координате У на 0.1мкм Без коррекции по результатам аттестации.
- 40. Погрешность неровности края и однородности размера вызванная неоднородностью интенсивности каналов. Без коррекции по результатам аттестации. Интенсивность
- 41. Структура схема взаимодействия модулей управляющих компонентов ЭМ-5189
- 42. Структура комплекса управляющего
- 43. Структура внешнего программного обеспечения
- 44. Технология химической обработки заготовки
- 45. Вертикальные линии шириной 1мкм. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением 3000крат
- 46. Вертикальные линии шириной 1мкм. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением 3000крат
- 47. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением 3000крат Вертикальные линии шириной 1мкм.
- 48. Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением
- 49. Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением
- 50. Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением
- 51. Топологические элементы шириной 0.4мкм. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением 3000крат
- 52. Топологические элементы шириной 6.4мкм. Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением 3000крат
- 53. Вертикальная линия шириной 2мкм. Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
- 54. Вертикальная линия шириной 0.8мкм. Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
- 55. Вертикальная линия шириной 1мкм. Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
- 57. Скачать презентацию
Принцип развертки световых пятен
Принцип развертки световых пятен
Оптическая схема проекционного канала.
Оптическая схема проекционного канала.
Электрооптический дефлектор
Электрооптический затвор
Электрооптический дефлектор
Электрооптический затвор
Сравнительные характеристики проекционного канала
Сравнительные характеристики проекционного канала
Формула распределения энергии в пятне
Формула распределения энергии в пятне
Однородная сетка
Белые пятна – основная сетка, черные – вложенная сетка
Градация
Однородная сетка
Белые пятна – основная сетка, черные – вложенная сетка
Градация
«Вектор», «Открывающий вектор», «Закрывающий вектор», проекция вектора на сетку пикселей
Один
«Вектор», «Открывающий вектор», «Закрывающий вектор», проекция вектора на сетку пикселей
Один
Неоднородная сетка
Белые пятна – основная сетка, черные – вложенная сетка
Неоднородная сетка
Белые пятна – основная сетка, черные – вложенная сетка
Аттестация проекционного канала по положению пятен
Направление сканирования пятна относительно непрозрачных штрихов
Аттестация проекционного канала по положению пятен
Направление сканирования пятна относительно непрозрачных штрихов
Аттестация проекционного канала по положению по Y
Направление сканирования пятна относительно непрозрачных
Аттестация проекционного канала по положению по Y
Направление сканирования пятна относительно непрозрачных
Аттестация проекционного канала по интенсивности
Пример сигнала аттестации проекционного канала по интенсивности
Аттестация проекционного канала по интенсивности
Пример сигнала аттестации проекционного канала по интенсивности
Прямоугольник в неоднородной сетке пикселей
Прямоугольник в неоднородной сетке пикселей
Расчет неоднородной сетки для левых границ
Количество шагов сканирования – ( размер
Расчет неоднородной сетки для левых границ
Количество шагов сканирования – ( размер
Расчет неоднородной сетки для правых границ
Количество шагов сканирования – ( размер
Расчет неоднородной сетки для правых границ
Количество шагов сканирования – ( размер
Расчет неоднородной сетки для нижних границ
Количество шагов сканирования – ( ширина
Расчет неоднородной сетки для нижних границ
Количество шагов сканирования – ( ширина
Расчет неоднородной сетки для нижних границ
Количество шагов сканирования – ( ширина
Расчет неоднородной сетки для нижних границ
Количество шагов сканирования – ( ширина
Математическое описание сетки пикселей
Массивом из 256 функций Гаусса PG i каждая
Математическое описание сетки пикселей
Массивом из 256 функций Гаусса PG i каждая
Формирование массива параметров пятен Гаусса (PG)
Аттестация по положению X
Аттестация по положению
Формирование массива параметров пятен Гаусса (PG)
Аттестация по положению X
Аттестация по положению
Схема преобразования массива пятен Гаусса (PG) в массив с описанием сетки
Схема преобразования массива пятен Гаусса (PG) в массив с описанием сетки
Меню юстировки проекционного канала
Меню юстировки проекционного канала
Меню юстировки команда “Масштаб”
Меню юстировки команда “Масштаб”
Меню юстировки команда “Масштаб”, рекомендации по использованию корректоров при установке каналов
Меню юстировки команда “Масштаб”, рекомендации по использованию корректоров при установке каналов
Меню юстировки команда “Масштаб”, визуализатор сигнала
Меню юстировки команда “Масштаб”, визуализатор сигнала
Меню юстировки команда “Фокус1”
Меню юстировки команда “Фокус1”
Меню юстировки команда “Фокус16”
Меню юстировки команда “Фокус16”
Меню юстировки команда “Затвор”
Меню юстировки команда “Затвор”
Меню юстировки команда “Дефлектор”
Меню юстировки команда “Дефлектор”
Меню юстировки команда “16*16”
Меню юстировки команда “16*16”
Меню юстировки команда “Интенсивность”
Меню юстировки команда “Интенсивность”
Меню юстировки команда “Проверка интенсивности”
Меню юстировки команда “Проверка интенсивности”
Меню юстировки команда “Настройка”
Меню юстировки команда “Настройка”
Проект шаблона.
Проект шаблона.
Проект шаблона. Участки топологии
Проект шаблона. Участки топологии
Аттестация координатного стола
Аттестация координатной системы предназначена для расчета и устранения погрешностей
Аттестация координатного стола
Аттестация координатной системы предназначена для расчета и устранения погрешностей
Последовательность действий в цикле экспонирования
1. Автоматическая аттестация проекционного канала по интенсивности.
2.
Последовательность действий в цикле экспонирования
1. Автоматическая аттестация проекционного канала по интенсивности.
2.
Пример искажения изображения. В неоднородной сетке пикселей.
Без коррекции по результатам аттестации.
Вертикальные
Пример искажения изображения. В неоднородной сетке пикселей.
Без коррекции по результатам аттестации.
Вертикальные
Пятно сдвинуто по координате Х на 0.2мкм
Неровность края из-за погрешности расположения
Пятно сдвинуто по координате Х на 0.2мкм
Неровность края из-за погрешности расположения
Неровность края. Однородность размера.
Пятно сдвинуто по координате У на 0.1мкм
Без коррекции
Неровность края. Однородность размера.
Пятно сдвинуто по координате У на 0.1мкм
Без коррекции
Погрешность неровности края и однородности размера вызванная неоднородностью интенсивности каналов.
Без коррекции
Погрешность неровности края и однородности размера вызванная неоднородностью интенсивности каналов.
Без коррекции
Структура схема взаимодействия модулей управляющих компонентов ЭМ-5189
Структура схема взаимодействия модулей управляющих компонентов ЭМ-5189
Структура комплекса управляющего
Структура комплекса управляющего
Структура внешнего программного обеспечения
Структура внешнего программного обеспечения
Технология химической обработки заготовки
Технология химической обработки заготовки
Вертикальные линии шириной 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200
Вертикальные линии шириной 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200
Вертикальные линии шириной 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с
Вертикальные линии шириной 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением 3000крат
Вертикальные
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с увеличением 3000крат
Вертикальные
Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе
Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе
Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе
Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе
Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе
Вертикальные линии шириной от 0.6 до 1мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе
Топологические элементы шириной 0.4мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с
Топологические элементы шириной 0.4мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с
Топологические элементы шириной 6.4мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с
Топологические элементы шириной 6.4мкм.
Фото выполнено на оптическом микроскопе Микро 200 с
Вертикальная линия шириной 2мкм.
Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
Вертикальная линия шириной 2мкм.
Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
Вертикальная линия шириной 0.8мкм.
Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
Вертикальная линия шириной 0.8мкм.
Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
Вертикальная линия шириной 1мкм.
Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
Вертикальная линия шириной 1мкм.
Фото выполнено на SEM с увеличением 15000крат
Тема урока: Изготовление модели планера.
Магнит өрісі
Рівноприскорений рух. Прискорення. Рівняння рівноприскореного руху. Розв’язування задач
Ультрафиолетовое излучение Выполнил: Григорий Петров
Энтропия и ее изменение
Ограничение перенапряжений и фильтрация помех
Электрическое поле в веществе
Көлбеу жазықтықта ілгерімелі қозғалыстағы қатты дене динамикасын зерттеу
Поверхностное натяжение в жидкостях
Физика
Теплоотдача при поперечном обтекании труб
Давление света
Медицинская и биологическая физика. Электричество и магнетизм
Лекция 6. Моделирование технологических процессов. Окисление, диффузия, сегрегация, силидизация
Презентация Изопроцессы 
Определение массы небесных тел
Решение задач механики различными способами - Презентация_
Получение и применение радиоактивных изотопов
Функциональная схема системы управления напряжением синхронного генератора. (Лабораторная работа 3)
Автоматизация в системе электроснабжения промышленных предприятий
Экспериментальные методы исследования частиц
Синтез наноматериалов на границах раздела жидкость - жидкость и жидкость - воздух. Метод Ленгмюра - Блоджетт
Теория судна. Статика. Лекция № 1. Геометрия корпуса судна
Коэффициент размножения нейтронов в цепном процессе
Диодтыѕ атќаратын ќызметі
Будова атома
Введение. Проблемы прочности в технике