Метрики тестирования

982.1-1998 (стандартного словаря метрик).
IEEE 1. Плотность отказов = [Число уникальных отказов, найденных при тестировании ] / [ Число строк кода ].
IEEE 2. Плотность дефектов = [Число уникальных дефектов, найденных при тестировании ] / [ Число строк кода ].
IEEE 5. Функциональный охват теста = [Число протестированных функциональных требований ] / [ Общее число требований ]
IEEE 18. Надежность работы выражается вероятностью того, что в k произвольных случаях работы программа вернет корректный результат. Эта величина оценивается через выполнение некоторого числа запусков программы (N) и вычисления числа случаев успешной работы (S). Вероятность успеха, таким образом, вычисляется как S/N, а вероятность возможности отработать k раз успешно - как произведение вероятностей каждого успешного запуска, то есть [S/N]×[S/N]×… ×[S/N], или [S/N]^k. Входные данные для каждого случая выбираются произвольно и независимо от предыдущего запуска.
IEEE 20. Среднее время обнаружения k отказов. Это значение вычисляется аналогично надежности работы (см. IEEE 18 выше).