Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения
рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением.
С помощью туннельного микроскопа можно перемещать атомы.
Если напряжение между иглой микроскопа и поверхностью образца сделать в
несколько больше, чем надо для изучения этой поверхности, то ближайший к ней атом образца превращается в ион и "перескакивает" на иглу.
Сложенное из 35 атомов ксенона на пластинке из никеля название компании IBM, 1990 год.