Содержание
- 2. Преломление светового луча Отношение синусов углов падения и преломления дает показатель преломления. Углы падения, отражения и
- 3. Двупреломление В двупреломляющих минералах (аморфных и не кубической сингонии) луч падающего неполяризованного света расщепляется на два
- 4. Критический угол Принцип работы рефрактометра основан на теории критического угла: на границе сред с различными оптическими
- 5. Критический угол Между критическим углом и показателями преломления существует прямая зависимость: синус К/у равен отношению показателей
- 6. Рефрактометры The Rayner Dialdex Refractometer. The Erb & Gray Refractometer The Gem Refractometer
- 7. Рефрактометр GIA GEM Duplex II Refractor) GIA GEM Illuminator Pola scope in place to illuminate the
- 8. Сравните ширину спектра излучения светодиодной лампы и натриевой лампы
- 9. Рефрактометр (устройство) 1. Корпус 2. Крышка 3. Предметный столик 4. Полуцилиндр или полусфера из высокопреломляющего материала
- 10. Функциональная схема работы рефрактометра (по Риду, 2003)
- 11. Рефрактометр Определение оптического характера и знака минерала Внимание! Работа возможна только на плоской хорошо отполированной грани!
- 12. Определение оптического характера и знака минерала Затем, не поднимая камень, поверните его по часовой стрелке примерно
- 13. Рефрактометр Затем, не поднимая камень, поверните его по часовой стрелке примерно на 30 градусов и вновь
- 14. Определение оптического характера минерала Анализируем результаты измерения показателей преломления по записям в рабочем листе. Если при
- 15. Рефрактометр: определение осности Если камень анизотропный, то возможны 4 варианта. 1. Оба показателя преломления повторяются через
- 16. Определение оптического знака анизотропных камней Проанализируйте записи показателей преломления ювелирного камня. Одноосный. При повороте камня на
- 17. Определение оптического знака анизотропных камней Двуосный. Определяется который из показателей преломления (верхний или нижний) меняются сильнее.
- 18. Определение оптического знака анизотропных камней Подвижную границу создает необыкновенный луч, а фиксированную – обыкновенный. В случае
- 19. Определение индексов оптических осей анизотропных камней
- 20. Метод «пятна» Применяется для определения показателей преломления материалов обработанных в виде сферических поверхностей.
- 21. Метод «пятна» применяется для определения показателя преломления кабошонов
- 22. Полярископ
- 24. Скачать презентацию